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tsubosaka亮度計 LC-5 通過按壓亮度表面輕松測量亮度 緊湊型手持式，可在所有情況下使用 使用數據保持功能，不會錯過您想要測量的時刻
更新日期：2023-07-26 訪問量：349
日本simotec 輻射屏蔽橡膠板BD2-03-1000-02 光學測量儀
日本simotec 輻射屏蔽橡膠板BD2-03-1000-02 高度安全的硫酸倍是一種高度包裝在橡膠中的輻射屏蔽材料。
更新日期：2023-06-13 訪問量：353
simotec 輻射屏蔽鎢片HW11-10-300-05 光學測量儀
simotec 輻射屏蔽鎢片HW11-10-300-05 新型安全材料，不含含鉛材料，用于輻射屏蔽
更新日期：2023-06-13 訪問量：317
日本analytik 紫外線輻射計UVP UVX 光學測量儀
日本analytik 紫外線輻射計UVP UVX 這款數字UVP UVX輻射計與三個可互換傳感器（單獨訂購）之一一起使用，用于測量254 nm、302 nm和365 nm紫外線波長。測量燈輻照度是監測任何紫外光源使用壽命的有效方法。單元包括一個用于連接圖表記錄器的端口（用戶提供）。
更新日期：2023-06-09 訪問量：451
日本spectra光譜輻射計/照度計Spectra-LUMI 光學測量儀
日本spectra光譜輻射計/照度計Spectra-LUMI 光譜輻射計和照度計 Spectra-LUMI 測量 380 至 780 nm 可見光范圍內的光譜，并測量各種項目，例如亮度、照度、色度、色溫、主波長、刺激純度和顯色性。
更新日期：2023-05-30 訪問量：491
日本atto單管光度計AB-2270 這是一種高靈敏度的單管式發光測量裝置。 它具有分色機制。
更新日期：2023-05-24 訪問量：330
日本atto單管光度計AB-2270 這是一種高靈敏度的單管式發光測量裝置。 它具有分色機制。
更新日期：2023-05-24 訪問量：322
synos簡單光學測量的光學系統 M-Scope J型 光學測量儀
synos簡單光學測量的光學系統 M-Scope J型 用于光學測量的簡單光學系統 M-Scope J型是一種用于光照射測量和光接收測量的光學系統。 它是一個小型單目外殼，適合集成到設備中。 配備用于同軸圖像觀察的圖像探測器連接端口，可以輕松對齊光照射位置和光接收位置。
更新日期：2023-04-19 訪問量：442
M-Scope Type Isynos用于光照射和光接收測量的光學系統 光學測量儀
synos用于光照射和光接收測量的光學系統M-Scope Type I 用于高性能光學測量的光學系統（用于光照射和光接收測量的光學系統） M-Scope Type I 是一種高性能光學系統，設計用于多用途光學應用測量，例如光照射、光接收測量和光束輪廓測量。
更新日期：2023-04-19 訪問量：353
日本synos高性能光學測量光學系統 M 型示波器 I 型 用于高性能光學測量的光學系統（用于光照射和光接收測量的光學系統） M-Scope Type I 是一種高性能光學系統，設計用于多用途光學應用測量，例如光照射、光接收測量和光束輪廓測量。
更新日期：2023-04-19 訪問量：413
日本OMT超寬范圍光度計 S009 這是一種細胞插入式超寬范圍弱發光測量裝置。 具有三位衰減率和低噪聲光子計數器的ND濾光片切換機制可以測量約3位的光強度范圍。
更新日期：2023-06-30 訪問量：420
likuan will用于 OIS 的光學傳感器FD-1067 光學測量儀
likuan will用于 OIS 的光學傳感器FD-1067 它是一種光學傳感器，使用兩個激光器同時測量傾斜、行程和行程。 傾斜和行程測量使用落射照明。 此外，還可以使用反射光同時進行行程測量。
更新日期：2023-04-04 訪問量：412
likuan will自動對焦的光學傳感器TD-1090 光學測量儀
likuan will自動對焦的光學傳感器TD-1090 它是一種光學傳感器，使用兩個激光器同時測量傾斜和行程。 傾斜測量使用落射照明。 此外，還可以使用反射光同時進行行程測量。
更新日期：2023-04-04 訪問量：707
optiworks 4D技術動態干涉儀PhaseCam6000 光學測量儀
optiworks 4D技術動態干涉儀PhaseCam6000 具有“動態干涉測量”（30微秒標準）的超快干涉測量4D Technology“動態干涉測量”可以在振動不可避免的地方以及遠處移動的物體和樣品進行測量。
更新日期：2023-04-03 訪問量：719
optiworks 非接觸式三維光學測量儀STIL-DUO 實現更精確的表面形狀測量。 更寬的測量范圍 除了先前型號中使用的測量方法（“共聚焦色度模式”）外，還安裝了新的“干涉測量模式”。 現在可以支持更精確的表面輪廓測量。 兩種模式都可以根據所需的測量精度使用，從而擴大了應用范圍。
更新日期：2023-04-03 訪問量：374
